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如何去分辨测试座是否是进口的？

一般品牌进口的测试座在座子的表面都会有厂家品牌的标识。并且国内的测试座厂家是在自主生产测试座的时候一般是不会添加国外的标签。一般品牌进口的测试座在价格上是要比国产的价格要贵的。同型号的测试座，国内的测试座产品比国外进口的测试座在价格上是要便宜70%左右。一般品牌进口的测试座在使用的次数上也是要比国产的座子要多的多。国外进口的测试座测试的次数能够达到几万次，如果保养的比较好，使用次数可以更多。而国内的测试座在使用次数方面是远远达不到的。一般品牌进口的测试座在座子本身的材料上跟国产的座子是不一样的。这一点，一般的新手是不能凭感觉手感判断出来的，深圳Flash芯片测试流程。只有多年的老手，接触进口测试座比较多的才能判断出来，深圳Flash芯片测试流程。 优普士为您减少成本，提高效能，深圳Flash芯片测试流程，质量保证，服务至上！深圳Flash芯片测试流程

IC测试程序繁琐，要求很高。晶圆测试和成品测试本质上都是集成电路的电学性能测试，包括芯片的电特性、电学参数和电路功能，其功能是器件的行为（能力），特性是器件行为的表现，而特性参数是器件的主要特征。因此，电性能测试就是对集成电路的电特性、电参数和功能在不同条件下进行的检验。此外，在IC测试的过程中还会相应地采取一系列测试规范以提高集成电路设计、工艺控制和使用水平，具体包括特性规范、生产规范、用户规范和寿命终结规范，分别对应芯片工作条件的容许限度和电路性能达标的评价、生产过程中的在线测试、用户验收测试、可靠性评估。深圳自动化芯片测试流程秉持迅速、可靠、精细、专业的态度永续经营，以提供实时有效的服务为目标。

芯片CP/FT测试的基本概念理解：chipprobing基本原理是探针加信号激励给pad，然后测试功能。a.测试对象，wafer芯片，还未封装的。b.测试目的，筛选，然后决定是否封装。可以节省封装成本（MPW阶段，不需要；fullmask量产阶段，才有节省成本的意义）。c.需要保证：基本功能成功即可，主要是机台测试成本高。高速信号不可能，较大支持100~400Mbps；高精度的也不行。总之，通常CP测试，只用于基本的连接测试和低速的数字电路测试。finaltesta.测试对象，封装后的芯片；b.测试目的，筛选，然后决定芯片可用做产品卖给客户。c.需要保证：spec指明的全部功能都要验证到。

集成电路产业从上世纪60年代开始逐渐兴起，早期企业都是IDM运营模式（垂直整合），这种模式涵盖设计、制造、封测等整个芯片生产流程，这类企业一般具有规模庞大、技术全、积累深厚的特点，如Intel、三星等。随着技术升级的成本越来越高以及对IC产业生产效率的要求提升，促使整个产业逐渐向垂直分工模式发展。1987年，台积电创立，将IC制造从IC产业中剥离出来，而后逐渐发展为设计、制造、封装、测试分离的产业链模式。这种垂直分工的模式首先较大提升了整个产业的运作效率；其次，将相对轻资产的设计和重资产的制造及封测分离有利于各个环节集中研发投入，加速技术发展，也降低了企业的准入门槛和运营成本；再者，各环节交由不同厂商进行，增强企业的专业性和生产流程的准确性。此外，专业测试从封测中分离既可以减少重复产能投资，又可以稳定地为中小设计厂商提供专业化测试服务，以规模效应降低产品的测试费用，缩减产业成本。芯片测试是必不可少的工段。

芯片测试在什么环节进行?现在芯片面积越来越大，测试相当具有挑战性。所以如何测试其实是一门很深的学问。由于信号过多，不可能把每个信号都引出来测试，所以肯定在设计的时候就要做可测性实际，就是DFT。DFT简而言之，DFT就是通过某种方法间接观察内部信号的情况，例如scanchain之类。然后通过特定的测试仪器来测试——这种仪器不是简单的示波器，它要能产生各种测试波形并检测输出，所以一套平台大概要上百万。而且这些DFT比较适合于小芯片，大芯片像CPU之类的还会使用内建自测试（built-inselftest），让芯片自己在上电后可以执行测试，这样就大大减小了测试人员的工作量。DFT测试通过之后，就到正式的芯片测试环节了。 优普士电子(深圳)有限公司，不只是品质，更多的是服务。深圳大批量芯片测试厂家电话

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芯片测试座的三大作用：芯片测试座检查在线的单个元器件以和各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、故障定位准确，快捷迅速等特点。简单点描述就是一个连接导通的插座;

作用一：来料检测，采购回来的IC在使用前有时会进行品质检验，找出不良品，从而提高SMT的良品率。IC的品质光凭肉眼是看不出来的，必须通过加电检测，用常用的方法检测IC的电流、电压、电感、电阻、电容也不能完全判断IC的好坏;通过IC测试夹具应用功能跑程序，可以判断IC的好坏。

作用二：返修检测，有时生产过程中主板出了问题，倒底是哪里出了问题?不好判断!有了IC测试治具什么都好说，把拆下的IC放到测试座内通过测试就能排除是否IC方面的原因。

作用三：IC分检，返修的IC，在拆下的过程有可能损坏，用IC测试治具可以将坏的IC分检出来，可以节省很多人力、物力，从而减小各项成本。拿BGA封装的IC来说，如果IC没有分检，坏的IC贴上经过FCT测试检查出来后，把IC拆下来，要烘烤、清洗，很麻烦，还有可能损坏相关器件。用IC测试夹具检测就可以大减少出现上述问题的机率。?
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